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叶沿林
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叶沿林
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论文成果
Investigation of the thickness non-uniformity of the very thin silicon-strip detectors
发布时间:2020-02-10点击次数:
影响因子: 0.0
发表刊物: Nuclear Inst. and Methods in Physics Research A
卷号: 897
页面范围: 100–105
是否译文:
发表时间: 2018-06-01