叶沿林
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叶沿林
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论文成果
Investigation of the thickness non-uniformity of the very thin silicon-strip detectors
发布时间：2020-02-10点击次数：
影响因子：
0.0
发表刊物：
Nuclear Inst. and Methods in Physics Research A
卷号：
897
页面范围：
100–105
是否译文：
否
发表时间：
2018-06-01