俞大鹏
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论文成果
Microanalyses of the reverse-bias leakage current increase in the laser lift off GaN-based light emitting diodes
发布时间：2019-11-13点击次数：
发表刊物：
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
备注：
2009
是否译文：
否
全部作者：
Sun, Yongjian; Yu, Tongjun; Zhao, Huabo; 等