俞大鹏
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论文成果
Failure mechanism analysis of electromigration dominated damage in TiSi(2) nanowires
发布时间：2019-11-13点击次数：
发表刊物：
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
备注：
2009
是否译文：
否
全部作者：
Zou, Chen-Xia; Xu, Jun; Zhang, Xin-Zheng; 等