俞大鹏
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论文成果
Microstructural and compositional characterization of a new silicon carbide nanocables using scanning transmission electron microscopy
发布时间：2019-11-13点击次数：
发表刊物：
PHYSICA E-LOW-DIMENSIONAL SYSTEMS & NANOSTRUCTURES
备注：
2002
是否译文：
否
全部作者：
Yu, DP; Xing, YJ; Tence, M et al.