俞大鹏
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论文成果
Determination of structural defects in Hg1-xCdxTe multilayer materials
发布时间:2019-11-13点击次数:
发表刊物:
INFRARED PHYSICS & TECHNOLOGY
备注:
1997
是否译文:
否
全部作者:
Yu, FJ; Yu, DP; Duan, XF