刘开辉
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刘开辉
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In situ TEM studies of oxygen vacancy migration for electrically induced resistance change effect in cerium oxides
发布时间：2020-06-03点击次数：
影响因子：
0.0
发表刊物：
Micron
卷号：
41
期号：
4
页面范围：
301
是否译文：
否
发表时间：
2009-12-06
附件：